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革新觸點(diǎn)·引領(lǐng)未來(lái)：展示 Contactless Test Station III 和 NFC 測(cè)試平臺(tái)
正文：
法國(guó)巴黎 — 2025 年12月2日-4日，盛會(huì)即將拉開(kāi)帷幕。我們誠(chéng)摯邀請(qǐng)您蒞臨 TRUSTECH 2025，在 巴黎 Porte de Versailles 會(huì)展中心（Paris Expo Porte de Versailles）共同探索下一代卡片與 NFC 測(cè)試領(lǐng)域的技術(shù)創(chuàng)新。
我們將在 E090 展位為您展示最新一代解決方案： Contactless Test Station III（CTS III）— 專為 NFC 項(xiàng)目而生的前沿測(cè)試平臺(tái)。
不僅如此，我們的專業(yè)團(tuán)隊(duì)將現(xiàn)場(chǎng)展示 NFC Test Bench 演示，屆時(shí)您將有機(jī)會(huì)直接了解如何借助 CTS III 及其配套生態(tài)，強(qiáng)化并賦能您的 NFC 創(chuàng)新項(xiàng)目。
此外，您還可通過(guò)官網(wǎng)免費(fèi)領(lǐng)取參觀門(mén)票，建議提前預(yù)約與我們的專家團(tuán)隊(duì)會(huì)面，探討定制方案與未來(lái)發(fā)展機(jī)遇。
我們期待在 12 月初與您相聚巴黎，共襄盛會(huì)！
聯(lián)系方式／會(huì)議預(yù)約信息：
- 展會(huì)日期：2025 年12月2日-4日
- 地點(diǎn)：法國(guó) 巴黎 Porte de Versailles 會(huì)展中心
- 展位號(hào)：E090
- 預(yù)約專家會(huì)面：請(qǐng)聯(lián)系sales@paralink.com.cn
| 上海市中山西路999號(hào)華聞國(guó)際大廈609室